Studente | SBARASSA, MARTA |
Facoltà/Dipartimento | DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA INDUSTRIALE E DELL’INFORMAZIONE E DI ECONOMIA |
Corso di studio | INGEGNERIA ELETTRONICA |
Anno Accademico | 2020 |
Titolo italiano | " Modellazione e validazione di un sistema di misura per EVM basato su RF Sampling e Model Based Design" |
Titolo inglese | Simulation of a Radiofrequency scenario for secondary E-SCAN radar |
Relatore |
CIANCETTA, FABRIZIO CRESCENZI, ALESSANDRO |
Appare nelle tipologie: | Laurea magistrale (Postgraduate Degree) |
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http://hdl.handle.net/20.500.12319/5481