Studente LOVISI, NICOLA
Facoltà/Dipartimento DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA INDUSTRIALE E DELL’INFORMAZIONE E DI ECONOMIA
Corso di studio INGEGNERIA ELETTRONICA (D.M. 509/1999)
Anno Accademico 2020
Titolo italiano Strutture e misure parametriche per lo sviluppo, la caratterizzazione e il monitor di processi di produzione nell'industria dei semiconduttori
Titolo inglese Parametric structures and measurements for the development, characterization and monitoring of production processes in the semiconductor industry
Relatore FACCIO, MARCO
Controrelatore TORGE, GIOVANNI
Appare nelle tipologie: Laurea specialistica (Master's Degree)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/20.500.12319/6581