| Studente | NABOTH, STEPHEN NKYA |
| Facoltà/Dipartimento | DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA E SCIENZE DELL’INFORMAZIONE E MATEMATICA |
| Corso di studio | MATHEMATICAL MODELLING |
| Anno Accademico | 2021 |
| Titolo italiano | A new approach for automatic defect detection via thermal image processing and deep learning tools |
| Titolo inglese | A new approach for automatic defect detection via thermal image processing and deep learning tools |
| Relatore |
SFARRA, STEFANO CICONE, ANTONIO |
| Controrelatore | SFARRA, STEFANO |
| Appare nelle tipologie: | Laurea magistrale (Postgraduate Degree) |
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
| Master_s_thesis_complete.pdf Internal network | 7.06 MB | Adobe PDF | Contatta l'autore |
I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Il download dei file è consentito soltanto per chi si collega da rete interna o da proxy.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/20.500.12319/8146
