Studente NABOTH, STEPHEN NKYA
Facoltà/Dipartimento DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA E SCIENZE DELL’INFORMAZIONE E MATEMATICA
Corso di studio MATHEMATICAL MODELLING
Anno Accademico 2021
Titolo italiano A new approach for automatic defect detection via thermal image processing and deep learning tools
Titolo inglese A new approach for automatic defect detection via thermal image processing and deep learning tools
Relatore SFARRA, STEFANO
CICONE, ANTONIO
Controrelatore SFARRA, STEFANO
Appare nelle tipologie: Laurea magistrale (Postgraduate Degree)
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/20.500.12319/8146