A new approach for automatic defect detection via thermal image processing and deep learning tools
NABOTH, STEPHEN NKYA
2021/2022
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Master_s_thesis_complete.pdf
accesso solo dalla rete interna
Dimensione
7.06 MB
Formato
Adobe PDF
|
7.06 MB | Adobe PDF | Contatta l'autore |
I documenti in UNITESI sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Il download dei file è consentito soltanto per chi si collega da rete interna o da proxy.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/20.500.12319/8146